精密工学会主催の「第１回　外観検査アルゴリズムコンテスト」において最優秀賞を受賞いたしました。製品欠陥検査についての アルゴリズムを競い合うコンテストで、企業・大学を問わず応募が可能です。 賞状と盾画像 外観検査アルゴリズムコンテストホームページ 第3回 動画像処理ワークショップ招待論文 その他の欠陥検査基本技術 包装紙欠陥検査論文 包装紙欠陥検査データ